[发明专利]测试系统有效
申请号: | 201210436101.4 | 申请日: | 2012-11-05 |
公开(公告)号: | CN103792429A | 公开(公告)日: | 2014-05-14 |
发明(设计)人: | 杨正光 | 申请(专利权)人: | 华邦电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R27/04 | 分类号: | G01R27/04 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 任默闻 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种测试系统,包括,一测试机台、一测试制具以及一待测芯片。测试机台具有一第一主通道、一第二主通道以及多个第三主通道。测试制具具有多个第一次通道、一第二次通道以及多个第三次通道。第一次通道电连接第一主通道。第二次通道电连接第二主通道。第三次通道电连接第三主通道。待测芯片包括多个电源垫、一测试电源垫以及多个信号垫。电源垫及测试电源垫通过多个走线彼此电连接。当测试制具接触待测芯片时,电源垫电连接第一次通道,测试电源垫电连接第二次通道,信号垫电连接第三次通道。 | ||
搜索关键词: | 测试 系统 | ||
【主权项】:
一种测试系统,其特征在于,包括:一测试机台,具有一第一主通道、一第二主通道以及多个第三主通道;一测试制具,具有多个第一次通道、一第二次通道以及多个第三次通道,其中所述多个第一次通道电连接所述第一主通道,所述第二次通道电连接所述第二主通道,所述多个第三次通道电连接所述多个第三主通道;以及一待测芯片,包括:多个电源垫,每一电源垫通过多个走线电连接其它电源垫;一测试电源垫,通过所述多个走线电连接所述多个电源垫的至少一者;以及多个信号垫;其中当所述测试制具接触所述待测芯片时,所述多个电源垫电连接所述多个第一次通道,所述测试电源垫电连接所述第二次通道,所述多个信号垫电连接所述多个第三次通道。
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