[发明专利]测试设备及其测试方法

摘要

本发明公开了一种测试设备，用于测试LED灯矩阵，该测试设备包括上位机、信号转换装置以及信号反馈装置。上位机用于产生系统控制信号；信号转换装置与上位机连接，用于从上位机接收系统控制信号，并根据系统控制信号输出多路TTL电平信号，多路TTL电平信号用于对LED灯矩阵进行测试；信号反馈装置与上位机连接，用于测量LED灯矩阵中的电流值，并将测量结果反馈至上位机，上位机根据测量结果判断LED灯矩阵测试是否通过。本发明还公开了一种测试设备的测试方法。通过上述方式，本发明的测试设备及其测试方法能够提高测试的可靠度和准确度，提高测试效率。

主权项

一种测试设备，用于测试LED灯矩阵，其特征在于，所述测试设备包括：上位机，用于产生系统控制信号；信号转换装置，与所述上位机连接，用于从所述上位机接收所述系统控制信号，并根据所述系统控制信号输出多路TTL电平信号，其中，所述多路TTL电平信号用于对所述LED灯矩阵进行测试；信号反馈装置，所述信号反馈装置与所述上位机连接，用于测量所述LED灯矩阵中的电流值，并将测量结果反馈至所述上位机；其中，所述上位机还用于在获取到所述测量结果后，根据所述测量结果判断所述LED灯矩阵测试是否通过。