[发明专利]一种利用光栅检测微电流的装置无效
| 申请号： | 201210439653.0 | 申请日： | 2012-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN103809006A | 公开（公告）日： | 2014-05-21 |
| 发明（设计）人： | 田边 | 申请（专利权）人： | 西安交大京盛科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00 |
| 代理公司： | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人： | 刘国智 |
| 地址： | 710075 陕西省西安市*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 一种利用光栅检测微电流的装置，包括圆柱磁体，在圆柱磁体上与磁场方向垂直缠绕有光栅，光栅上涂覆金属导电层，金属导电层在光栅的入射光一端接电流输入端子，金属导电层在光栅的出射光一端接电流输出端子，光栅的出射光一端接信号处理模块，本发明具有良好的稳定性和灵敏度，同时大幅降低了成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 光栅 检测 电流 装置 | ||
【主权项】：
一种利用光栅检测微电流的装置，其特征在于，包括圆柱磁体（1），在圆柱磁体（1）上与磁场方向垂直缠绕有光栅（2），光栅（2）上涂覆金属导电层，金属导电层在光栅（2）的入射光一端接电流输入端子（4），金属导电层在光栅（2）的出射光一端接电流输出端子（5），光栅（2）的出射光一端接信号处理模块（3）。
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