[发明专利]物理量检测器在审

专利信息
申请号: 201210441355.5 申请日: 2012-11-07
公开(公告)号: CN103105261A 公开(公告)日: 2013-05-15
发明(设计)人: 佐藤健太;北原直树 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G01L9/08 分类号: G01L9/08
代理公司: 北京金信立方知识产权代理有限公司 11225 代理人: 黄威;苏萌萌
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种物理量检测器,其具有优良的检测精度。本发明的物理量检测器具备:隔膜,其具有因来自外部的压力而发生位移的位移部;保持部件,其具有对隔膜的外周部进行保持的环状的固定部、和在隔膜的一个面侧,从固定部的内周朝向而中心突出的突出部;支承体,其被固定在突出部上;压敏元件,其具有被固定在位移部上的第一基部、被固定在支承体上的第二基部、和被设置在两基部间的压敏部。
搜索关键词: 物理量 检测器
【主权项】:
一种物理量检测器,其特征在于,具备:受压部,其包括受到压力而发生位移的位移部、和被设置于所述位移部的外周的外周部;保持部件,其包括在俯视观察时呈圆周状的固定部、以及在俯视观察时从所述固定部的内周朝向中心而突出的突出部,所述突出部具有开口,并被配置于所述受压部的一个面侧,所述固定部对所述外周部进行保持,以便在从所述突出部侧进行俯视观察时,所述受压部的一个面侧上的、所述位移部的至少一部分存在于所述开口内,所述物理量检测器还具备:支承体,其被固定在所述突出部上;压敏元件,其包括被固定在所述位移部的所述至少一部分上的第一基部、被固定在所述支承体上的第二基部、和被设置在所述第一基部与所述第二基部之间的压敏部,所述第一基部和所述第二基部以在所述位移部进行位移的方向上并排的方式而被立起设置。
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