[发明专利]IGBT故障检测电路有效
| 申请号： | 201210446218.0 | 申请日： | 2012-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN103033732A | 公开（公告）日： | 2013-04-10 |
| 发明（设计）人： | 王剑平;余琳;江婷婷;黄康;王海军;盖玲 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R19/165 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 林怀禹 |
| 地址： | 310027 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种IGBT故障检测电路。包括IGBT损坏检测电路、IGBT过流检测电路、IGBT过压检测电路、信号反馈电路。三个检测电路均通过高灵敏度的电压比较器检测IGBT集电极-发射极的电压，并与各电压比较器所设定的参考电压进行比较。各个检测电路将检测结果以TTL电平的形式输入信号反馈电路，当IGBT损坏、过流以及过压中任何一种故障发生时，反馈电路中的光纤发光头都将被触发，得到的故障反馈信号通过光纤隔离传输后，由高速光耦输出。本发明能实时检测IGBT是否已经损坏；实时检测IGBT是否出现过流；实时检测IGBT是否出现过压；当其任何一种故障时，都能快速输出故障反馈信号。 | ||
| 搜索关键词： | igbt 故障 检测 电路 | ||
【主权项】：
一种IGBT故障检测电路，其特征在于：包括IGBT损坏检测电路、IGBT过流检测电路、IGBT过压检测电路、信号反馈电路；IGBT损坏检测电路的两个检测端分别与被检测的IGBT的集电极和发射极相连；IGBT过流检测电路的两个检测端分别与被检测的IGBT的集电极和发射极相连；IGBT过压检测电路的两个检测端分别与被检测的IGBT的集电极和发射极相连；IGBT损坏检测电路的过流检测信号输出端与信号反馈电路的第一个输入端相连；IGBT过流检测电路的损坏检测信号输出端与信号反馈电路的第二个输入端相连，IGBT过压检测电路的损坏检测信号输出端与信号反馈电路的第三个输入端相连；IGBT损坏检测电路的一端同时与IGBT过流检测电路的一端和IGBT过压检测电路的一端相连，IGBT损坏检测电路的另一端同时与IGBT过流检测电路的另一端和IGBT过压检测电路的另一端相连。
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