[发明专利]导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境作用下失效分析方法无效
| 申请号： | 201210451383.5 | 申请日： | 2012-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN102967688A | 公开（公告）日： | 2013-03-13 |
| 发明（设计）人： | 张剑锋;郭云;杨生胜;王鹢;秦晓刚 | 申请（专利权）人： | 中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所 |
| 主分类号： | G01N33/00 | 分类号： | G01N33/00 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 高燕燕 |
| 地址： | 730000 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境作用下失效分析方法，用于我国黑色聚酰亚胺薄膜空间环境作用下的失效分析。本发明利用地面环模设备对导电黑色聚酰亚胺薄膜进行其空间环境效应模拟试验，研究其在空间环境作用下的性能退化规律；用表面分析技术对空间环境作用前后的导电黑色聚酰亚胺薄膜进行微观分析，研究其微观结构变化规律；进行导电黑色聚酰亚胺薄膜宏观性能测试与分析；结合理论建立导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境作用下的宏观性能变化与微观结构变化的对应关系，分析其微观结构变化对宏观性能退化的影响，以此为基础判断空间环境作用下导电黑色聚酰亚胺薄膜失效情况。 | ||
| 搜索关键词： | 导电 黑色 聚酰亚胺 薄膜 空间 环境 作用 失效 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境作用下失效分析方法，其特征在于：首先利用地面环模设备对导电黑色聚酰亚胺薄膜进行其空间环境效应模拟试验，得出其在空间环境作用下的性能退化规律；然后用表面分析技术对空间环境作用前后的导电黑色聚酰亚胺薄膜进行微观分析，研究其微观结构变化规律；其次进行导电黑色聚酰亚胺薄膜宏观性能测试与分析，建立导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境作用下的宏观性能变化与微观结构变化的对应关系，最后分析其微观结构变化对宏观性能退化的影响，以此为基础判断空间环境作用下导电黑色聚酰亚胺薄膜失效情况。
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