[发明专利]一种针对X射线闪烁屏的性能测试装置无效
| 申请号： | 201210451964.9 | 申请日： | 2012-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN102937510A | 公开（公告）日： | 2013-02-20 |
| 发明（设计）人： | 赵博震;秦秀波;杨胜宇;魏存峰;魏龙 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人： | 郑立明;陈亮 |
| 地址： | 100039 北京市石景山区玉*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种针对X射线闪烁屏的性能测试装置。所述装置包括X射线源、限束器、测试器件、闪烁屏、光学组件和光电转换器件，其中所述X射线源用于产生具有特定能谱和发散角的X射线；所述限束器固定在所述X射线源的出口处；所述测试器件固定在所述限束器和所述闪烁屏之间；所述光学组件用于将所述闪烁屏输出的可见光成像在所述光电转换器件上；该光学组件包括可调式透镜组，该可调式透镜组与所述光电转换器件的相对距离能在一定范围内调节；所述光电转换器件用于探测所述闪烁屏的输出光，并将其转换为电信号。所述装置能够在不同探测面积和像素密度的成像条件之间灵活调整，同时测量闪烁屏的调制传递函数、发光不均匀性和发光强度等参数，具有测量精度高、适用范围广、使用灵活方便和成本低廉的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 射线 闪烁 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种针对X射线闪烁屏的性能测试装置，其特征在于，所述装置包括X射线源、限束器、测试器件、闪烁屏、光学组件和光电转换器件，其中：所述X射线源用于产生具有特定能谱和发散角的X射线；所述限束器固定在所述X射线源的出口处，用于控制X射线的辐射区域；所述测试器件固定在所述限束器和所述闪烁屏之间，用于屏蔽部分X射线以在所述闪烁屏上形成刀口边缘图像；所述光学组件用于将所述闪烁屏输出的可见光成像在所述光电转换器件上；该光学组件包括可调式透镜组，所述可调式透镜组将所述闪烁屏输出的可见光对焦至所述光电转换器件的成像面，且该可调式透镜组与所述光电转换器件的相对距离能在一定范围内调节；所述光电转换器件用于探测所述闪烁屏的输出光，并将其转换为电信号。
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