[发明专利]一种在硅基工艺上制作光纤对准基座阵列的方法有效
申请号: | 201210452085.8 | 申请日: | 2012-11-13 |
公开(公告)号: | CN103809240A | 公开(公告)日: | 2014-05-21 |
发明(设计)人: | 袁苑;罗啸;吴智勇;刘鹏 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | G02B6/13 | 分类号: | G02B6/13 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 王函 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种在硅基工艺上制作光纤对准基座阵列的方法,包括如下步骤:1.1在光刻版上画出光纤对准基座所需要的通孔阵列和尺寸;1.2使用光刻胶将光刻版上通孔阵列和尺寸在硅晶圆片上定义出来;1.3使用干法刻蚀机台刻蚀出光纤对准基座阵列的通孔;1.4使用去胶机台去除残留的光刻胶;1.5去除干法刻蚀过程中产生的刻蚀反应聚合物。本发明利用硅基半导体制造工艺具有生产精度高,体积小,产量高,工艺成熟,监控严格的优点,制造出经济且高精度的可批量生产的光纤对准基座。 | ||
搜索关键词: | 一种 工艺 制作 光纤 对准 基座 阵列 方法 | ||
【主权项】:
一种在硅基工艺上制作光纤对准基座阵列的方法,其特征在于,包括如下步骤:1.1在光刻版上画出光纤对准基座所需要的通孔阵列和尺寸;1.2使用光刻胶将光刻版上通孔阵列和尺寸在硅晶圆片上定义出来;1.3使用干法刻蚀机台刻蚀出光纤对准基座阵列的通孔;1.4使用去胶机台去除残留的光刻胶;1.5去除干法刻蚀过程中产生的刻蚀反应聚合物。
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