[发明专利]半导体装置及其制造方法和存储器系统在审

专利信息
申请号: 201210466158.9 申请日: 2012-11-16
公开(公告)号: CN103489868A 公开(公告)日: 2014-01-01
发明(设计)人: 李相范 申请(专利权)人: 爱思开海力士有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L21/8247
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 许伟群;俞波
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明涉及一种半导体装置、一种包括该半导体装置的存储器系统以及一种制造该半导体装置的方法。所述半导体装置包括:在衬底上形成的垂直沟道层;在每个垂直沟道层的长度周围交替形成的传导层图案和绝缘层图案;以及在每个垂直沟道层和每个传导层图案之间形成的电荷存储层图案,其中每个电荷存储层图案通过绝缘层图案隔离。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法 存储器 系统
【主权项】:
一种半导体装置,其包括:在衬底上形成的垂直沟道层;在每个垂直沟道层的长度周围交替形成的传导层图案和绝缘层图案;以及在每个垂直沟道层和每个传导层图案之间形成的电荷存储层图案,其中每个电荷存储层图案通过所述绝缘层图案隔离。
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