[发明专利]一种真空中非金属材料质量损失的原位监测系统及方法有效
| 申请号： | 201210469959.0 | 申请日： | 2012-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN102980832A | 公开（公告）日： | 2013-03-20 |
| 发明（设计）人： | 庄建宏;王鹢;郭兴;姚日剑;杨青;田海 | 申请（专利权）人： | 中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所 |
| 主分类号： | G01N5/04 | 分类号： | G01N5/04 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 杨志兵;李爱英 |
| 地址： | 730000 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种真空中非金属材料质量损失的原位监测系统及方法，属于材料特性测试领域。所述系统包括主真空室、连杆、抽气装置、副真空室、高真空插板阀、样品舟、石英晶体微量天平、低温冷沉；所述方法包括设定低温冷沉和石英晶体微量天平的温度，向副真空室内通入氮气；将试样称重后放入样品舟中，将样品舟装入副真空室后关闭副真空室，切断氮气开启抽气装置；将样品舟移入主真空室中石英晶体微量天平的正下方，关闭高真空插板阀；将试样加热至试样的出气温度，每隔设定时间记录一次石英晶体微量天平的频率变化Δf和温度T；计算试样的总质量损失。所述方法提高了测量精度，有效避免了装卸样品时大气对测试系统的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 真空 中非 金属材料 质量 损失 原位 监测 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种真空中非金属材料质量损失的原位监测系统，其特征在于：所述系统包括：主真空室（1）、连杆（2）、抽气装置（3）、副真空室（4）、高真空插板阀（5）、样品舟（6）、石英晶体微量天平（7）、低温冷沉（8）；其中，主真空室（1）为圆柱体结构；在主真空室（1）内壁的顶部和四周位置分别设有低温冷沉（8），石英晶体微量天平（7）固定在主真空室（1）顶部的低温冷沉（8）上；样品舟（6）放置在主真空室（1）底面上，与石英晶体微量天平（7）相对放置；主真空室（1）和副真空室（4）之间通过管路和高真空插板阀（5）连接；连杆（2）与主真空室（1）和高真空插板阀（5）相通；连杆（2）一端位于副真空室（4）内，另一端露出副真空室（4），连杆（2）的长度大于样品舟（6）到副真空室（4）的距离；所述样品舟（6）、高真空插板阀（5）、连杆（2）位于一条直线上；抽气装置（3）分别与主真空室（1）和副真空室（4）连接。
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