[发明专利]转换电路及芯片

摘要

本发明提供一种转换电路及芯片，该转换电路包括：输入单元，连接输入单元的DAC，连接DAC输出端的ADC，ADC的输出端连接比较单元，比较单元用于将ADC输出的测试码集与第二标准测试码集进行比较，若比较结果在预设的误差范围内，则通知测试数据采集单元；若比较结果超出预设的误差范围，则将比较结果输出至校正单元；校正单元用于根据比较结果获取补偿码集，并将补偿码集输入至输入单元，以使输入单元根据补偿码集对所述第一标准测试码集进行更新，获取更新后的第一标准测试码集；测试数据采集单元用于获取ADC输入端的电压值。上述转换电路解决了现有技术中测试ADC需要较长测试时间的问题。

主权项

一种转换电路，其特征在于，所述转换电路包括输入单元，数字模拟转换器DAC，模拟数字转化器ADC，比较单元，校正单元及测试数据采集单元，所述输入单元，用于向数字模拟转换器DAC的输入端输入第一标准测试码集中的标准测试码；所述数字模拟转换器DAC，用于接收所述输入单元输入的所述标准测试码，将接收的标准测试码进行数模转换处理，并通过输出端输出转换后得到的模拟信号；所述模拟数字转换器ADC，用于通过输入端接收所述DAC输出的所述模拟信号，并将所述模拟信号进行模数转换处理，生成由数字信号构成的测试码集；所述比较单元，用于将所述ADC输出的测试码集与第二标准测试码集进行比较，若比较结果在预设的误差范围内，则所述比较单元通知测试数据采集单元；若所述比较结果超出预设的误差范围，则所述比较单元将所述比较结果输出至校正单元；所述校正单元，用于在所述比较单元中的比较结果超出预设的误差范围时，根据所述比较结果获取补偿码集，并将所述补偿码集输入至所述输入单元，以使所述输入单元根据所述补偿码集对所述第一标准测试码集进行更新；所述测试数据采集单元，用于在所述比较单元中的比较结果处于预设的误差范围内时，获取所述ADC的输入端的电压值，其中，所述输入单元还用于：接收所述校正单元输出的补偿码集，根据所述补偿码集对所述第一标准测试码集进行更新，获取更新后的第一标准测试码集，将更新后的第一标准测试码集中的测试码输入至所述DAC的输入端。