[发明专利]一种硅片缓冲装载装置有效
申请号: | 201210479223.1 | 申请日: | 2012-11-22 |
公开(公告)号: | CN103217130A | 公开(公告)日: | 2013-07-24 |
发明(设计)人: | 吴文镜;李国光;赵江艳 | 申请(专利权)人: | 北京智朗芯光科技有限公司;中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30;G01B11/24;G01N21/47 |
代理公司: | 北京市德权律师事务所 11302 | 代理人: | 刘丽君 |
地址: | 100191 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种硅片缓冲装载装置,属于硅片样品光学测量技术领域。该装置包括硅片样品台和吸盘,吸盘与硅片样品台相配合,硅片样品台具有底座,还包括缓冲机构,缓冲机构连接于底座,缓冲机构包括接触平台和升降机构,接触平台固定连接于升降机构,接触平台在升降机构的带动下升降。该装置在对硅片样品进行装载时,机械手与硅片样品台能够实现任意装载,并且,装载过程简单、装载稳定。 | ||
搜索关键词: | 一种 硅片 缓冲 装载 装置 | ||
【主权项】:
一种硅片缓冲装载装置,包括硅片样品台和吸盘,所述吸盘与所述硅片样品台相配合,所述硅片样品台具有底座,其特征在于,还包括缓冲机构,所述缓冲机构连接于所述底座,所述缓冲机构包括接触平台和升降机构,所述接触平台固定连接于所述升降机构,所述接触平台在所述升降机构的带动下升降。
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