[发明专利]基于Cu膜退火的SiC衬底图形化石墨烯制备方法无效
申请号: | 201210480631.9 | 申请日: | 2012-11-22 |
公开(公告)号: | CN102938367A | 公开(公告)日: | 2013-02-20 |
发明(设计)人: | 郭辉;赵艳黎;张玉明;汤小燕;雷天民;张克基 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L21/04 | 分类号: | H01L21/04;C01B31/04 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;朱红星 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于Cu膜退火的SiC衬底图形化石墨烯制备方法。其实现步骤是:(1)对SiC样片进行标准清洗;(2)在SiC样片表面淀积SiO2,并在SiO2上光刻出图形;(3)将图形化的SiC样片与气态CCl4反应,生成碳膜;(4)将生成的碳膜样片置于缓冲氢氟酸溶液中去除图形以外的SiO2;(5)在去除SiO2的样片上利用PVD法镀Cu膜;(6)将镀有Cu膜的样片置于Ar气中,退火15-25分钟,使碳膜重构成图形化石墨烯;(7)将图形化石墨烯的样片置于FeCl3溶液中去除Cu膜。本发明具有工艺简单,安全性高,图形化石墨烯表面光滑,连续性好,孔隙率低的优点,可用于制作微电子器件。 | ||
搜索关键词: | 基于 cu 退火 sic 衬底 图形 化石 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种基于Cu膜退火的SiC衬底图形化石墨烯制备方法,包括以下步骤:(1)对SiC样片进行清洗,以去除表面污染物;(2)在清洗后的SiC样片表面利用等离子体增强化学气相沉积PECVD淀积一层0.4‑1.2μm厚的SiO2,作为掩膜;(3)在SiO2掩膜表面涂一层光刻胶,再在掩膜上刻出与所需制作的器件的衬底形状相同的窗口,露出3C‑SiC,形成与窗口形状相同的图形;(4)将图形化的SiC样片置于石英管中,并连接好由三口烧瓶、水浴锅、电阻炉和石英管组成的反应装置,再对石英管加热至800‑1000℃;(5)对装有CCl4液体的三口烧瓶加热至60‑80℃,再向三口烧瓶中通入Ar气,利用Ar气携带CCl4蒸汽进入石英管中,使CCl4与裸露的SiC反应30‑120min,生成碳膜;(6)将生成的碳膜样片置于缓冲氢氟酸溶液中,以去除图形以外的SiO2,该溶液是由比例为1:10的氢氟酸与水配制而成;(7)在去除SiO2后的碳膜上,利用物理气相淀积PVD法镀一层200‑300nm厚的Cu膜;(8)将镀有Cu膜的碳膜样片置于Ar气中,在温度为900‑1100℃下退火15‑25分钟,使碳膜在图形位置重构成图形化石墨烯;(9)将生成的图形化石墨烯的样片置于FeCl3溶液中以去除Cu膜,获得图形化石墨烯材料。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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