[发明专利]基于主元分析法的校准分光光度计仪器间误差的方法

摘要

本发明公开了一种基于主元分析法的校准分光光度计仪器间误差的方法。该方法通过标准分光光度计和测试分光光度计对校准样本的测量分别得到标准光谱和测试光谱，然后利用主元分析法将标准光谱和测试光谱分别转换到标准系数矩阵和测试系数矩阵，接着采用最小二乘法拟合标准系数矩阵和测试系数矩阵计算得校准矩阵，最后根据校准矩阵实现对任一经测试分光光度计测得的光谱数据的校准。该发明应用简单、效率高、具有很高的实用价值。

主权项

一种基于主元分析法的校准分光光度计仪器间误差的方法，其特征在于包括以下步骤：1)选取n个基本覆盖各个色区的校准样本，可采用国际标准色卡或色样。2)选取两台分光光度计，其中一台作为标准分光光度计，测量校准样本得到标准光谱，记为矩阵RS；将另外一台作为测试分光光度计，测量校准样本得到测试光谱，记为矩阵RT；3)将所有测得标准光谱进行主元分析，取前m个主元组成主元矩阵V；4)根据主元矩阵V，将标准光谱矩阵RS和测试光谱矩阵RT分别转换为标准系数矩阵CS和测试系数矩阵CT；CS＝RS×VCT＝RT×V5)假定标准系数矩阵CS和测试系数矩阵CT满足等式CS＝CT×K，采用最小二乘法计算校准矩阵K；6)对任一经测试分光光度计测量得到的光谱数据R，首先根据主元矩阵V转化为系数矩阵C，再利用校准矩阵K计算得校准后的系数矩阵C’，最后计算得到校准后的光谱数据R’；C＝R×VC’＝C×KR’＝C’×VT其中VT表示主元矩阵V的转置。