[发明专利]用于测试物位计系统的设备和方法

摘要

本发明涉及用于测试物位计系统的设备和方法。所述测试设备包括波导、第一信号反射装置和第二信号反射装置。第一信号反射装置被配置成将来自第二信号反射装置的、沿着波导行进的电磁信号反射回朝向第二信号反射装置，并至少在一定时间段内允许来自第二信号反射装置的、沿着波导朝向第一信号反射装置行进的电磁信号通过第一信号反射装置。由此，可以使用通过波导的选定次数的通过来模拟通过较长的波导的通过，并且这允许使用高质量波导，如果不是这样，高质量的波导取决于应用领域而太大、太重或太贵而无法使用。

主权项

一种用于物位计系统的测试设备，所述物位计系统包括测量单元和连接到所述测量单元的信号传播装置，所述测试设备包括：波导，其能够在连接点处连接到所述物位计系统，以允许通过所述波导来传播由所述测量单元发射的电磁发射信号；第一信号反射装置，其沿着所述波导布置在沿所述波导与所述连接点相距第一距离处，所述第一信号反射装置被配置成允许来自所述测量单元的所述电磁发射信号的至少一部分通过所述第一信号反射装置并进一步沿所述波导前进；以及第二信号反射装置，其沿着所述波导布置在沿所述波导与所述连接点相距第二距离处，所述第二距离大于所述第一距离，所述第二信号反射装置用于将来自所述第一信号反射装置的、沿着所述波导行进的电磁信号反射回朝向所述第一信号反射装置，其中，所述第一信号反射装置被配置成：将来自所述第二信号反射装置的、沿着所述波导行进的电磁信号反射回朝向所述第二信号反射装置；以及至少在从所述测量单元发射所述电磁发射信号之后的预定时间处发生的时间段内允许来自所述第二信号反射装置的、沿着所述波导朝向所述第一信号反射装置行进的电磁信号通过所述第一信号反射装置，以允许该电磁信号被所述物位计系统的所述测量单元接收。