[发明专利]目标雷达散射截面测量与定标处理的方法有效

专利信息
申请号: 201210484279.6 申请日: 2012-11-23
公开(公告)号: CN102998665A 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 许小剑 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01S7/41 分类号: G01S7/41
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 刘芳
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种目标雷达散射截面测量与定标处理的方法,包括:在t1时刻,测量获取安装定标体支架后的测试场背景回波SBC(f,t1),SBC(f,t)=HC(f,t1).BC(f,t1);在t2时刻,测量获取安装定标体后的定标体回波SC(f,t2);在t2时刻,测量获取安装定标体后的定标体回波SC(f,t2);在t3时刻,测量获取安装目标支架后的测试场背景回波SBT(f,t3),SBT(f,t3)=HT(f,t3).BT(f,t3);在t4时刻,测量获取安装目标后的目标回波ST(f,t4);采用公式(1)进行定标处理。本发明可以解决外场测试中诸多时变因素导致的测量定标误差大的问题。
搜索关键词: 目标 雷达 散射 截面 测量 定标 处理 方法
【主权项】:
1.一种目标雷达散射截面测量与定标处理的方法,其特征在于,包括:在t1时刻,测量获取安装定标体支架后的测试场背景回波SBC(f,t1),SBC(f,t1)=HC(f,t1)·BC(f,t1);在t2时刻,测量获取安装定标体后的定标体回波SC(f,t2);在t3时刻,测量获取安装目标支架后的测试场背景回波SBT(f,t3),SBT(f,t3)=HT(f,t3)·BT(f,t3);在t4时刻,测量获取安装目标后的目标回波ST(f,t4);采用公式(1)进行RCS定标处理:σT(f)=ST(f,t4)-SBT(f,t3)SC(f,t2)-SBC(f,t1)·σC(f)---(1)]]>其中,所述HT(f,t1)和HC(f,t3)分别表示测目标和测定标体时测量系统-测试场的传递函数;所述f为雷达频率;所述分别表示目标和定标体的宽带复散射函数;所述BT(f,t3)和BC(f,t3)分别表示测目标和测定标体时的固有背景散射。
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