[发明专利]PCB板推块两段式测试结构有效
| 申请号： | 201210487501.8 | 申请日： | 2012-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN103837817A | 公开（公告）日： | 2014-06-04 |
| 发明（设计）人： | 肖秋生;郑建生 | 申请（专利权）人： | 昆山威典电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;G01R1/067 |
| 代理公司： | 昆山四方专利事务所 32212 | 代理人： | 盛建德 |
| 地址： | 215343 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种PCB板推块两段式测试结构，包括沿厚度方向上顺序设置的载板、限位板和针板，载板和限位板之间具有供真空吸合的间隙，载板背向限位板的一侧用于放置待测PCB板，对应待测PCB板上多次测试时始终需要探针接触的待测试针点，针板厚度方向上穿设有长探针，对应待测PCB板上多次测试时不需要探针始终接触的待测试针点，针板厚度方向上设有短探针，真空吸合时，限位板能够使长探针和短探针同时穿过探针通孔触及待测试针点和仅使长探针穿过探针通孔触及待测试针点，具有结构简单，便于操作实施的优点，能够确保在一次测试之后，按照测量要求很方便的将会干扰或不需测试的探针脱离，方便二次测试的进行，确保二次测试的结果。 | ||
| 搜索关键词： | pcb 板推块两 段式 测试 结构 | ||
【主权项】：
一种PCB板推块两段式测试结构，其特征在于：包括沿厚度方向上顺序设置的载板（1）、限位板（2）和针板（3），所述载板和所述限位板之间具有供真空吸合的间隙（4），所述载板背向所述限位板的一侧用于放置待测PCB板（5），对应待测PCB板上多次测试时始终需要探针接触的待测试针点，所述针板厚度方向上穿设有长探针（6），对应待测PCB板上多次测试时不需要探针始终接触的待测试针点，所述针板厚度方向上设有短探针（7），对应每一个探针，所述载板和所述限位板上设有相匹配的探针通孔，真空吸合时，所述限位板能够使所述长探针和所述短探针同时穿过所述探针通孔触及所述待测试针点和仅使所述长探针穿过所述探针通孔触及所述待测试针点。
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