[发明专利]超级电容检测方法及装置有效
申请号: | 201210495542.1 | 申请日: | 2012-11-28 |
公开(公告)号: | CN103852650B | 公开(公告)日: | 2017-10-10 |
发明(设计)人: | 宋博;陈曦;卫浩;李磊;宋立刚 | 申请(专利权)人: | 华锐风电科技(集团)股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R27/26 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 | 代理人: | 刘芳 |
地址: | 100872 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种超级电容检测方法及装置,其中,方法包括在恒压源通过充电电路对待测超级电容进行充电的过程中,根据电容电压采样周期对所述待测超级电容的电压进行多次采样,获得多个电容电压采样值;根据所述多个电容电压采样值和电容计算公式,计算获得多个电容容值;其中,t为电容电压采样周期,R为所述充电电路中充电电阻的阻值,UDC(n)为第n个电容电压采样周期的恒压源电压值,UC(n‑1)为第n‑1个电容电压采样周期获得的电容电压采样值,UC(n)为第n个电容电压采样周期获得的电容电压采样值,n为大于0的整数;根据所述多个电容容值和所述待测超级电容的容值阈值,判断所述待测超级电容是否损坏。 | ||
搜索关键词: | 超级 电容 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种超级电容检测方法,其特征在于,包括:在通过恒压源和充电电路对待测超级电容进行单次充电的过程中,根据电容电压采样周期对所述待测超级电容的电压进行多次采样,获得多个电容电压采样值;根据所述多个电容电压采样值和电容计算公式:计算获得多个电容容值;其中,t为电容电压采样周期,R为所述充电电路中充电电阻的阻值,UDC(n)为第n个电容电压采样周期的恒压源电压值,UC(n‑1)为第n‑1个电容电压采样周期获得的电容电压采样值,UC(n)为第n个电容电压采样周期获得的电容电压采样值,n为大于0的整数;根据所述多个电容容值和所述待测超级电容的容值阈值,判断所述待测超级电容是否损坏。
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