[发明专利]镜像闪存器件及其操作方法有效
申请号: | 201210507578.7 | 申请日: | 2012-11-30 |
公开(公告)号: | CN102945850A | 公开(公告)日: | 2013-02-27 |
发明(设计)人: | 张雄 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;H01L21/8247 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种镜像闪存器件及其操作方法,其中,所述镜像闪存器件至少包括:半导体基底,形成于所述半导体基底上的栅极,形成于所述栅极下方的半导体基底中的沟道,分别对称的分布在所述沟道两侧的源极和漏极;其中,所述半导体基底至少包括:与基底相反掺杂类型的离子注入深井,以及位于该深井中且与基底相同掺杂类型的离子注入井,所述沟道形成于所述离子注入井中;所述栅极至少包括采用电荷分离存储材料的浮栅和控制栅。本发明在读操作时利用了栅致漏电流,规避了传统镜像器件对沟道电流的依赖,有利于器件持续缩减。 | ||
搜索关键词: | 闪存 器件 及其 操作方法 | ||
【主权项】:
一种镜像闪存器件,至少包括:半导体基底,形成于所述半导体基底上的栅极,形成于所述栅极下方的半导体基底中的沟道,分别对称的分布在所述沟道两侧的源极和漏极;其特征在于,所述半导体基底至少包括:与基底相反掺杂类型的离子注入深井,以及位于该深井中且与基底相同掺杂类型的离子注入井,所述沟道形成于所述离子注入井中;所述栅极至少包括用于俘获电荷的浮栅和控制栅,所述浮栅采用电荷分离存储材料。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的