[发明专利]镜像闪存器件及其操作方法有效

专利信息
申请号: 201210507578.7 申请日: 2012-11-30
公开(公告)号: CN102945850A 公开(公告)日: 2013-02-27
发明(设计)人: 张雄 申请(专利权)人: 上海宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L21/8247
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种镜像闪存器件及其操作方法,其中,所述镜像闪存器件至少包括:半导体基底,形成于所述半导体基底上的栅极,形成于所述栅极下方的半导体基底中的沟道,分别对称的分布在所述沟道两侧的源极和漏极;其中,所述半导体基底至少包括:与基底相反掺杂类型的离子注入深井,以及位于该深井中且与基底相同掺杂类型的离子注入井,所述沟道形成于所述离子注入井中;所述栅极至少包括采用电荷分离存储材料的浮栅和控制栅。本发明在读操作时利用了栅致漏电流,规避了传统镜像器件对沟道电流的依赖,有利于器件持续缩减。
搜索关键词: 闪存 器件 及其 操作方法
【主权项】:
一种镜像闪存器件,至少包括:半导体基底,形成于所述半导体基底上的栅极,形成于所述栅极下方的半导体基底中的沟道,分别对称的分布在所述沟道两侧的源极和漏极;其特征在于,所述半导体基底至少包括:与基底相反掺杂类型的离子注入深井,以及位于该深井中且与基底相同掺杂类型的离子注入井,所述沟道形成于所述离子注入井中;所述栅极至少包括用于俘获电荷的浮栅和控制栅,所述浮栅采用电荷分离存储材料。
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