[发明专利]光学检验方法有效
| 申请号： | 201210512945.2 | 申请日： | 2012-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN103808729A | 公开（公告）日： | 2014-05-21 |
| 发明（设计）人： | 林金霖 | 申请（专利权）人： | 广达电脑股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 史新宏 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种光学检验方法，包括下列步骤。利用一检验设备取得一待检验物的一图像。决定该图像的一目标图像区域。取得目标图像区域的多个检验范围的中心坐标。将该些中心坐标填入一阵列，并依据该些中心坐标的相对关系重新定序该些中心坐标而得到一重新定序坐标阵列。比较重新定序坐标阵列与一原始坐标阵列，以检验该些检验范围所对应的待检验物的部分是否有缺失。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检验 方法 | ||
【主权项】：
一种光学检验方法，包括：利用一检验设备取得一待检验物的一图像；决定该图像的一目标图像区域；取得该目标图像区域的多个检验范围的中心坐标；将该些中心坐标填入一阵列，并依据该些中心坐标的相对关系重新定序该些中心坐标而得到一重新定序坐标阵列；以及比较该重新定序坐标阵列与一原始坐标阵列，以检验该些检验范围所对应的该待检验物的部分是否有缺失。
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