[发明专利]非易失性存储器件及其操作方法和制造方法有效
申请号: | 201210513073.1 | 申请日: | 2012-12-04 |
公开(公告)号: | CN103187421A | 公开(公告)日: | 2013-07-03 |
发明(设计)人: | 安泳洙;崔锺武;卢侑炫 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;H01L21/8247;G11C16/10;G11C16/26 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 周晓雨;俞波 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明公开了一种非易失性存储器件及其操作方法和制造方法,所述非易失性存储器件包括:多个沟道结构,形成在衬底之上,并且包括与多个沟道层交替层叠的多个层间电介质层;第一垂直栅和第二垂直栅,沿着与沟道结构相交叉的一个方向交替地设置在沟道结构之间并与多个沟道层相邻,存储器层插入在第一垂直栅和第二垂直栅与多个沟道层之间;以及第一字线和第二字线对,设置在沟道结构之上或之下,并以与第一垂直栅和第二垂直栅重叠的方式沿着一个方向延伸。第一字线与第一垂直栅连接,第二字线与第二垂直栅连接。 | ||
搜索关键词: | 非易失性存储器 及其 操作方法 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种非易失性存储器件,包括:多个沟道结构,所述多个沟道结构形成在衬底之上,并且包括与多个沟道层交替层叠的多个层间电介质层;第一垂直栅和第二垂直栅,所述第一垂直栅和所述第二垂直栅沿着与所述沟道结构相交叉的一个方向交替地设置在所述沟道结构之间并且与所述多个沟道层相邻,存储器层插入在所述第一垂直栅和所述第二垂直栅与所述多个沟道层之间;以及第一字线和第二字线对,所述第一字线和第二字线对设置在所述沟道结构之上或之下,并且以与所述第一垂直栅和所述第二垂直栅重叠的方式沿着所述一个方向延伸,其中,所述第一字线与所述第一垂直栅连接,所述第二字线与所述第二垂直栅连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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