[发明专利]一种二极管芯片的制备方法有效

专利信息
申请号: 201210518664.8 申请日: 2012-12-06
公开(公告)号: CN102983077A 公开(公告)日: 2013-03-20
发明(设计)人: 邓华鲜 申请(专利权)人: 乐山嘉洋科技发展有限公司
主分类号: H01L21/329 分类号: H01L21/329
代理公司: 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 代理人: 毛光军
地址: 614000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种二极管芯片的制备方法,尤其属于快恢复二极管芯片的制备方法。包括N+层和P+层,采用如下步骤进行A)、在N+型衬底硅片正面生长至少一层用于电流漂移的N型层;B)、在N型层表面生长一层二氧化硅;C)、在二氧化硅上涂覆光刻胶;D)、在光刻胶上光刻出分压环窗口和主结窗口,腐蚀沟槽;E)、D)步骤后采用离子注入法,生成P+层和P-层,形成以P+层为主结,至少一个分压环P-层为副结的闭合环;F)对腐蚀后沟槽涂覆玻璃钝化层;G)、在N+层和P+层表面均溅射镀镍合金层。采用本发明的技术方案,具有正、反向恢复时间短,抗反向击穿电压高的优点。
搜索关键词: 一种 二极管 芯片 制备 方法
【主权项】:
一种二极管芯片的制备方法, 包括N+层(1)和P+层(2),其特征在于,采用如下步骤进行:A)、在 N+(1)型衬底硅片正面生长至少一层用于电流漂移的N型层(3);   B)、在N型层表面生长一层二氧化硅(2);C)、在二氧化硅(2)层上涂覆光刻胶;D)、在光刻胶上光刻出分压环窗口和主结窗口,腐蚀沟槽;E)、上述D)步骤后,采用离子注入法,生成P+层(2)和P‑层(4),形成以P+层为主结,至少一个分压环P‑层(4)为副结的闭合环;F)对腐蚀后沟槽涂覆玻璃钝化层(5);   G)、在N+层(1)和P+层(2)表面均溅射镀镍合金层(6)。
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