[发明专利]一种MEMS扫描探头有效

专利信息
申请号: 201210519608.6 申请日: 2012-12-06
公开(公告)号: CN103033929A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 陈巧;谢会开;周亮;丁金玲 申请(专利权)人: 无锡微奥科技有限公司
主分类号: G02B26/08 分类号: G02B26/08;G02B26/10
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 许方
地址: 214028 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种MEMS扫描探头,包括基座(1)、光纤(2)、透镜(3)、柔性双金属结构(8)、微镜底座(7)、以及设置在微镜底座(7)下表面的MEMS微镜(4),各个部件按照本发明的设计要求相互进行连接,其中,微镜底座(7)下表面上与基座(1)最接近的边和基座(1)的端部对设置于微镜底座(7)下表面的MEMS微镜(4)的自倾斜状态进行了限位;本发明设计的MEMS扫描探头在实现MEMS微镜在自倾斜状态的基础上,能够方便、准确的控制MEMS微镜的自倾斜角度。
搜索关键词: 一种 mems 扫描 探头
【主权项】:
一种MEMS扫描探头,包括基座(1)、光纤(2)、透镜(3)、微镜底座(7)、以及设置在微镜底座(7)下表面的MEMS微镜(4),其中,基座(1)的下表面沿其轴向方向设置有两端开口的光学定位槽(6);光纤(2)设置在光学定位槽(6)内;通过设置在光学定位槽(4)内的透镜定位槽(9),将透镜(3)设置在光纤(2)的一端;其特征在于:还包括柔性双金属结构(8),微镜底座(7)的一边通过柔性双金属结构(8)与基座(1)上靠近透镜(3)的端部相连接,其中,柔性双金属结构(8)的两端分别连接基座(1)端部的上表面和微镜底座(7)的上表面;柔性双金属结构(8)使得设置于微镜底座(7)下表面的MEMS微镜(4)处于自倾斜状态,与光学定位槽(6)实现光学对准,且微镜底座(7)下表面上与基座(1)最接近的边和基座(1)的端部对设置于微镜底座(7)下表面的MEMS微镜(4)的自倾斜状态进行了限位。
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