[发明专利]一种提高热电阻温度计测量精度的方法有效

专利信息
申请号: 201210520835.0 申请日: 2012-12-07
公开(公告)号: CN103852183A 公开(公告)日: 2014-06-11
发明(设计)人: 霍雨佳;李小芬;李红霞;何正熙;朱加良;陈静;余俊辉;何鹏;苟拓;刘艳阳;李文平;王远兵;王华金 申请(专利权)人: 中国核动力研究设计院
主分类号: G01K7/16 分类号: G01K7/16;G01K15/00
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 高尚梅
地址: 610041 四*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及,具体公开了一种提高热电阻温度计测量精度的方法,包括以下步骤:1、在一个热电阻温度计的测量范围内选取m个点作为温度校准基准点,其中第n个基准点的输出温度值为Yn;2、根据该热电阻温度计的数据表采集第n个温度校准基准点的电阻值Rn;3、获得第n个温度校准基准点对应的输入温度值Xn;4、所述m个温度校准基准点构成m-1个温度区间段,当热电阻温度计测量的温度值Ti处于第i个温度区间段时,根据步骤三得到的第i个温度区间段的增益Ai与偏置Bi;5、对热电阻温度计测量的温度值Ti进行校准修正,得到校准修正温度值Ti‘。本发明提高了核电厂热电阻温度计的测量精度;降低了整个温度测量通道的误差,提高了电厂的安全性和经济性。
搜索关键词: 一种 提高 热电阻 温度计 测量 精度 方法
【主权项】:
1.一种提高热电阻温度计测量精度的方法,其特征在于:包括以下步骤: 步骤一、在一个热电阻温度计的测量范围内选取m个点作为温度校准基准点,其中第n个基准点的输出温度值为Yn,n=1,2,3,…,m; 步骤二、根据该热电阻温度计的数据表采集第n个温度校准基准点的电阻值Rn; 步骤三、根据步骤二采集到的第n个温度校准基准点的电阻值Rn,进而通过下式获得第n个温度校准基准点对应的输入温度值Xn; Rn=R0(1+AXn+BXn2); 步骤四、所述m个温度校准基准点构成m-1个温度区间段,当热电阻温度计测量的温度值Ti处于第i个温度区间段时,根据步骤三得到的第i个温度区间段的增益Ai与偏置Bi; 其中,i=1,2,3,…,m-1;步骤五、对热电阻温度计测量的温度值Ti进行校准修正,得到校准修正温度值Ti; Ti‘=AiTi+Bi。 
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国核动力研究设计院,未经中国核动力研究设计院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210520835.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top