[发明专利]一种大规模微系统芯片的片上多节点系统的自测试方法有效
| 申请号： | 201210522345.4 | 申请日： | 2012-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN103036737A | 公开（公告）日： | 2013-04-10 |
| 发明（设计）人： | 惠志达;阿克塞尔·詹奇;鲁中海;朱红雷 | 申请（专利权）人： | 无锡美森微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26 |
| 代理公司： | 北京中恒高博知识产权代理有限公司 11249 | 代理人： | 宋敏 |
| 地址： | 214131 江苏省无锡*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种大规模微系统芯片的片上多节点系统的自测试方法，主要包括：对片上多节点系统中的路由器Router进行初始化设置，并设定测试源TestSource；该测试源TestSource，能够在片上多节点系统启动时，启动路由器的并行自测试流程，统计并行自测试流程的测试信息。本发明所述大规模微系统芯片的片上多节点系统的自测试方法，可以克服现有技术中无法测试片上多节点系统中路由器之间的互连线路等缺陷，以实现测试结果准确和总体测试时间少的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 大规模 系统 芯片 片上多 节点 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种片上多节点系统的自测试方法，其特征在于，主要包括：对片上多节点系统中的路由器Router进行初始化设置，并设定测试源Test Source；该测试源Test Source，能够在片上多节点系统启动时，启动路由器的并行自测试流程，统计并行自测试流程的测试信息。
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