[发明专利]红外探测器的测量装置和测量方法有效

专利信息
申请号: 201210525867.X 申请日: 2012-12-10
公开(公告)号: CN103017912A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 熊敏;周桃飞;邢利敏;董旭;张志强;张宝顺 申请(专利权)人: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
主分类号: G01J5/10 分类号: G01J5/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215123 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开一种红外探测器的测量装置和测量方法,该装置包括红外光谱仪,提供单色的红外光;低温装置,具有红外窗口,该红外窗口接收所述红外光;设于所述低温装置内的待测探测器和参考探测器;移动平台,带动所述红外光谱仪或待测探测器和参考探测器移动;前置放大器,分别连接于所述待测探测器和参考探测器,所述前置放大器将探测信号放大后输出至所述红外光谱仪。本发明首先完成低温装置内高响应度的参考探测器对准,移动平台移动相应偏移量后实现待测探测器的自动对准。可提高小尺寸、低响应度红外探测器低温测量的对准效率与测量精度,方便多个样品多次、重复测量。
搜索关键词: 红外探测器 测量 装置 测量方法
【主权项】:
一种红外探测器的测量装置,其特征在于,包括:红外光谱仪,提供单色的红外光;低温装置,具有红外窗口,该红外窗口接收所述红外光;设于所述低温装置内的待测探测器和参考探测器;移动平台,带动所述待测探测器和参考探测器移动;前置放大器,分别连接于所述待测探测器和参考探测器,所述前置放大器将探测信号放大后输出至所述红外光谱仪。
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