[发明专利]射频横向双扩散场效应晶体管及其制造方法有效
申请号: | 201210529922.2 | 申请日: | 2012-12-11 |
公开(公告)号: | CN103035731A | 公开(公告)日: | 2013-04-10 |
发明(设计)人: | 李娟娟;慈朋亮;钱文生;韩峰;胡君 | 申请(专利权)人: | 上海华虹NEC电子有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁纪铁 |
地址: | 201206 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种射频横向双扩散场效应晶体管,包括P型衬底,在所述P型衬底上生长P型外延层,在所述P型外延层中形成轻掺杂漂移区,在所述P型外延层上方设置有第一层法拉第盾及第二层法拉第盾,在所述轻掺杂漂移区中还包括两块第二次NLDD注入区域,分别位于所述第一层法拉第盾及所述第二层法拉第盾的下方。本发明能获得超过原有结构器件的性能,实现更高的击穿电压(高于120V),同时还可以降低原有结构器件的导通电阻。同时本发明还公开了该晶体管的制造方法。 | ||
搜索关键词: | 射频 横向 扩散 场效应 晶体管 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种射频横向双扩散场效应晶体管,包括P型衬底,在所述P型衬底上生长P型外延层,在所述P型外延层中形成轻掺杂漂移区,在所述P型外延层上方设置有第一层法拉第盾及第二层法拉第盾,其特征在于,在所述轻掺杂漂移区中还包括两块第二次NLDD注入区域,分别位于所述第一层法拉第盾及所述第二层法拉第盾的下方。
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