[发明专利]一种磷掺杂氧化锌薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 201210530408.0 申请日: 2012-12-10
公开(公告)号: CN103866264B 公开(公告)日: 2017-05-10
发明(设计)人: 张阳;卢维尔;董亚斌;解婧;李超波;夏洋 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: C23C16/40 分类号: C23C16/40;C23C16/44
代理公司: 北京华沛德权律师事务所11302 代理人: 刘丽君
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种磷掺杂氧化锌薄膜的制备方法,属于氧化锌薄膜制备技术领域。所述方法包括原子层沉积设备通入含锌源气体和含氧源气体,在原子层沉积设备反应腔中的硅衬底表面生长氧化锌薄膜;原子层沉积设备通入含磷源气体和含氧源气体,在氧化锌薄膜表面生长磷氧键。本发明可以简单地实现磷原子掺杂在氧化锌薄膜中,制备出的薄膜掺杂层可控,薄膜的均匀性较高,性能完整。
搜索关键词: 一种 掺杂 氧化锌 薄膜 制备 方法
【主权项】:
一种磷掺杂氧化锌薄膜的制备方法,其特征在于,所述方法包括:原子层沉积设备通入含锌源气体和第一含氧源气体,在所述原子层沉积设备反应腔中的硅衬底表面生长氧化锌薄膜;所述硅衬底的表面预先采用RCA标准清洗法进行清洗,在所述硅衬底表面形成硅醇键;所述原子层沉积设备通入含磷源气体和第二含氧源气体,在所述氧化锌薄膜表面生长磷氧键;所述含锌源气体的进气时间为0.1s‑1s,反应时间为10s~60s;所述第一含氧源气体和第二含氧源气体的进气时间均为0.1s‑1s,反应时间均为10s~60s;所述含磷源气体的进气时间为0.1s‑1s,反应时间为10s~60s;所述原子层沉积设备采用的载气为氮气;所述氮气的流量为1sccm‑1000sccm;所述原子层沉积设备反应腔中用于承载硅衬底的基盘的温度为50℃‑400℃。
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