[发明专利]半导体存储器测试方法和半导体存储器有效
| 申请号： | 201210530440.9 | 申请日： | 2012-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN103187102A | 公开（公告）日： | 2013-07-03 |
| 发明（设计）人： | 森郁;柳下良昌;青木一 | 申请（专利权）人： | 富士通半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 李晓冬 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了半导体存储器测试方法和半导体存储器。通过将擦除脉冲施加到存储单元阵列中包括的并且被分成多个组的存储单元系列来执行第一擦除测试，直到出现被做出擦除完成的确定的组为止。基于在检测到首先被做出擦除完成的确定的组时的擦除脉冲数目来对包括所述存储单元系列在内的存储单元的其他系列执行第二擦除测试。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 存储器 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种半导体存储器测试方法，包括：通过将擦除脉冲施加到存储单元阵列中包括的并且被分成多个组的存储单元系列来执行第一擦除测试，直到出现被做出擦除完成的确定的组为止；以及基于在检测到首先被做出擦除完成的确定的组时的擦除脉冲数目来对包括所述存储单元系列在内的存储单元的其他系列执行第二擦除测试。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士通半导体股份有限公司，未经富士通半导体股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210530440.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：食用油滤油器
- 下一篇：产业价值链规划配置方式的ICT 技术支持设计
