[发明专利]厚度检测方法在审
| 申请号： | 201210532018.7 | 申请日： | 2012-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN103868462A | 公开（公告）日： | 2014-06-18 |
| 发明（设计）人： | 张有志 | 申请（专利权）人： | 致伸科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 刘春生;于宝庆 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种厚度检测方法，用以检测一待测物的厚度是否于一预设厚度范围内。本发明的方法首先依据预设厚度范围调整第一光感测装置、第二光感测装置、第一光发射装置与第二光发射装置的位置，而后将待测物置于水平基座上，接着依据第一光感测装置与第二光感测装置是否分别感测到第一光发射装置所发射的第一光束与第二光发射装置所发射的第二光束显示相应的信号，并通过所显示的信号判断待测物的厚度是否于预设厚度范围内。 | ||
| 搜索关键词： | 厚度 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种厚度检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：（A）将一待测物置于一水平基座上；（B）判断一第一光感测装置是否感测到一第一光发射装置所发射的一第一光束并判断一第二光感测装置是否感测到一第二光发射装置所发射的一第二光束，其中该第二光发射装置与该第二光感测装置的位置高于该第一光发射装置与该第一光感测装置的位置；以及（C）若该第一光感测装置未感测到该第一光发射装置所发射的该第一光束且该第二光感测装置感测到该第二光发射装置所发射的该第二光束，则显示一第一信号并判断该待测物的一厚度于一预设厚度范围内。
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