[发明专利]OLED显示装置及感测像素驱动电路的特性参数的方法有效
| 申请号： | 201210532295.8 | 申请日： | 2012-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN103177685A | 公开（公告）日： | 2013-06-26 |
| 发明（设计）人： | 尹重先;金承泰;姜芝贤;李志恩 | 申请（专利权）人： | 乐金显示有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/32 | 分类号： | G09G3/32 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 徐金国;钟强 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明公开了一种OLED显示装置及感测像素驱动电路的特性参数的方法。所述显示装置包括：包括多个像素的显示面板，每个像素包括发光元件和用于独立驱动所述发光元件的像素驱动电路；和特性参数检测单元，所述特性参数感测单元用于：驱动所述多个像素中的作为感测像素的一个像素的像素驱动电路；在与所述多个像素的各个像素驱动电路连接的数据线中，在与所述感测像素的像素驱动电路连接的数据线上，感测根据所述感测像素的像素驱动电路中的驱动TFT的特性而放电的电压；以及使用测量的电压来检测所述驱动TFT的阈值电压（Vth）和所述驱动TFT的工艺特性参数（k参数）的偏差。 | ||
| 搜索关键词： | oled 显示装置 像素 驱动 电路 特性 参数 方法 | ||
【主权项】：
一种OLED显示装置，包括：包括多个像素的显示面板，每个像素包括发光元件和用于独立驱动所述发光元件的像素驱动电路；和用于感测每个像素中的像素驱动电路的特性参数的特性参数检测单元，所述特性参数感测单元用于：驱动所述多个像素中的作为感测像素的一个像素的像素驱动电路；在与所述多个像素的各个像素驱动电路连接的数据线中，在与所述感测像素的像素驱动电路连接的数据线上，感测根据所述感测像素的像素驱动电路中的驱动薄膜晶体管（TFT）的特性而放电的电压；以及使用测量的电压来检测所述驱动薄膜晶体管的阈值电压（Vth）和所述驱动薄膜晶体管的工艺特性参数（k参数）的偏差。
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