[发明专利]三维集成功率薄膜混合集成电路的集成方法有效
申请号: | 201210537332.4 | 申请日: | 2012-12-12 |
公开(公告)号: | CN103107109A | 公开(公告)日: | 2013-05-15 |
发明(设计)人: | 杨成刚;苏贵东 | 申请(专利权)人: | 贵州振华风光半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L21/50 |
代理公司: | 贵阳中工知识产权代理事务所 52106 | 代理人: | 刘安宁 |
地址: | 550018 贵*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | 本发明公开了三维集成功率薄膜混合集成电路的集成方法,该方法采用凸型陶瓷基片代替平面型陶瓷基片,在凸型陶瓷基片水平面及凸起部分两侧面同时进行芯片和片式元器件的集成;采用分层整体化学镀和电镀方法形成镍-铬-金薄膜,再采用光刻、选择性腐蚀方法,按产品设计的图形形成所需的导带薄膜或阻带薄膜;采用激光调阻后,得到所需的薄膜基片;两侧面之间通过通孔、金属化填充进行连接;采用共晶焊接或浆料粘接方式将基片装贴在管基底座上,最后采用薄膜混合集成的方式,在凸型陶瓷基片上集成一个以上半导体芯片或其他片式元器件,并完成半导体芯片的引线键合。本方法生产的器件应用领域广泛,特别适用于装备系统小型化、高可靠的领域。 | ||
搜索关键词: | 三维 集成 功率 薄膜 混合 集成电路 方法 | ||
【主权项】:
三维集成功率薄膜混合集成电路的集成方法,其特征在于该方法是采用凸型陶瓷基片代替传统的平面型陶瓷基片,在凸型陶瓷基片水平面及凸起部分两侧面同时进行芯片和片式元器件的集成;采用分层整体化学镀和电镀的方法,在凸型陶瓷基片表面形成镍‑铬‑金薄膜,再采用光刻、选择性腐蚀的方法,按产品设计的图形形成所需的导带薄膜或阻带薄膜,采用激光调阻后,得到所需的薄膜基片;两侧面之间通过通孔、金属化填充进行连接;采用共晶焊接或浆料粘接的方式将基片装贴在管基底座上,最后采用薄膜混合集成的方式,在凸型陶瓷基片上集成一个以上半导体芯片或其他片式元器件,并完成半导体芯片的引线键合。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造