[发明专利]电容式触摸屏的侦测小面积接触或接近的方法及其装置有效
申请号: | 201210546409.4 | 申请日: | 2012-12-14 |
公开(公告)号: | CN103164097A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 张钦富;叶尚泰;邱士豪 | 申请(专利权)人: | 禾瑞亚科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁 |
地址: | 中国台湾台北市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明是有关于一种电容式触摸屏的侦测小面积接触或接近的方法及其装置,当触摸屏受小面积的接近或接触时,相应于接近或接触信号可能略小于用于侦测的门槛限值。本发明借由相应于接近或接触信号与相邻信号的总和来与门槛限值比较,可判断出原本门槛限值无法判断的小面积的接近或接触。 | ||
搜索关键词: | 电容 触摸屏 侦测 面积 接触 接近 方法 及其 装置 | ||
【主权项】:
一种电容式触摸屏的侦测小面积接触或接近的方法,其特征在于其包括:由电容式触模屏取得电容性耦合变化量影像,其中电容式触摸屏具有多条被提供驱动信号的被驱动导电条与多条提供电容性耦合变化量的被侦测导电条,在每次驱动信号被提供时,被同时提供驱动信号的一条或多条被驱动导电条与每一条被侦测导电条的一个或多个交会处产生电容性耦合,电容性耦合变化量影像的每一个值分别为所述交会处之一的电容性耦合变化量;由电容性耦合变化量影像侦测每一个被侦测交会处,其中被侦测交会处的值小于第一门槛限值与大于第二门槛限值;侦测每一个第一区域,每一个第一区域包含所述被侦测交会处之一与相邻于被侦测交会处的相邻交会处,并且第一区域的值的总和大于第一门槛限值;当没有侦测到任何第一区域时,侦测每一个第二区域,每一个第二区域包含所述被侦测交会处之一在内的四个相邻的交会处,并且第二区域的值的总和大于第一门槛限值;以及当侦测到至少一个第一区域或至少一个第二区域时,判断出每一个外部导电物件接近或接触的第一区域或第二区域,其中与外部导电物件接近或接触的第一区域或第二区域相邻的所有交会处的值小于第三门槛限值。
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