[发明专利]具有终端结构的金氧半二极管元件及其制法有效

专利信息
申请号: 201210547909.X 申请日: 2012-12-17
公开(公告)号: CN103872143A 公开(公告)日: 2014-06-18
发明(设计)人: 赵国梁;陈美玲;高隆庆;郭鸿鑫 申请(专利权)人: 英属维京群岛商节能元件股份有限公司
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L29/06;H01L29/40;H01L21/329
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 梁挥;祁建国
地址: 中国台湾新北市新*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种具有终端结构的金氧半二极管元件及其制法,该元件包含:一基板,具有多个平台区;而在N型外延层表面,为一被蚀刻出一浅沟槽区域的P型半导体区,其围绕在该平台区周围,增加了金属接触面积,降低正向导通压降值(Vf);一栅极氧化层,位于该平台区的表面上;一多晶硅层,位在该栅极氧化层上;一屏蔽氧化层,位在部分的该多晶硅层上的中间部分。该终端结构包含一沟槽;至少一氧化层,位于该沟槽内;侧壁多晶硅层,位在该沟槽侧壁的该氧化层上。屏蔽氧化层的厚度较栅极氧化层的厚度厚,因此可以降低寄生电容;沟槽中的氧化层及侧壁多晶硅层可有利于分散表面电场,因此可以提高该金氧半二极管元件的反向耐压。
搜索关键词: 具有 终端 结构 金氧半 二极管 元件 及其 制法
【主权项】:
一种具有终端结构的金氧半二极管元件,其特征在于,包含:一基板,具有至少一第一导电型外延层,该第一导电型外延层具有多个平台区;多个浅沟槽区域,分别环绕该些平台区;多个第二导电型半导体区,位在该些平台区外侧浅沟槽区域内;多个栅极氧化层,分别位于该些平台区之上;多个多晶硅层,分别位在该些栅极氧化层上;多个屏蔽氧化层,分别位在该些多晶硅层上,且覆盖该些多晶硅层的部分上表面,其中该屏蔽场氧化层的厚度较该栅极氧化层厚;一终端结构,包含:一沟槽,形成于该第一导电型外延层上;至少一氧化层,位于该沟槽内;及侧壁多晶硅层,位在该沟槽侧壁的该氧化层上;及一金属复合层,覆盖该些第二导电型半导体区、该多晶硅层、该屏蔽氧化层、及至少该沟槽中的该氧化层及该侧壁多晶硅层。
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