[发明专利]利用可切换功率发生器的高深宽比微结构刻蚀方法有效
申请号: | 201210552540.1 | 申请日: | 2012-12-19 |
公开(公告)号: | CN103887146A | 公开(公告)日: | 2014-06-25 |
发明(设计)人: | 倪图强;吴紫阳;文秉述 | 申请(专利权)人: | 中微半导体设备(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/311 |
代理公司: | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人: | 张静洁;徐雯琼 |
地址: | 201201 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开一种利用可切换功率发生器的高深宽比微结构刻蚀方法,高深宽比微结构刻蚀方法包含以下步骤:1、输入低功率低频信号激发等离子体,对晶圆上硬掩膜层,以及不定型碳层或有机掩膜层进行高深宽比微结构刻蚀;2、将低功率低频信号输入切换为高功率低频信号输入;3、高功率低频信号激发等离子体,对晶圆的二氧化硅层进行高深宽比微结构刻蚀。本发明根据工艺需要切换高频功率输出或低频功率输出,避免了采用高平功率发生器输出低频功率输出时造成的误差较大、重复性差的问题;实现功率输出的精确调节,提高产品合格率,降低成本。 | ||
搜索关键词: | 利用 切换 功率 发生器 高深 微结构 刻蚀 方法 | ||
【主权项】:
一种利用可切换功率发生器的高深宽比微结构刻蚀方法,该微结构刻蚀方法所适用的等离子体刻蚀腔室包含:腔室(1),该腔室(1)内分布有等离子体(5);上电极(2),其设置于所述腔室(1)内的顶部;下电极(3),其设置于所述腔室(1)内的底部;该下电极(3)上放置被刻蚀的晶圆(4);高频信号源,其输出高频信号至所述下电极(3);高功率低频信号源与低功率低频信号源,该高功率低频信号源与该低功率低频信号源可切换地输出高功率低频信号或低功率低频信号至所述下电极(3);所述晶圆(4)包含有光刻胶层、设置在光刻胶层下的硬掩膜层、设置在硬掩膜层下的不定型碳层或有机掩膜层,和设置在所述不定型碳层或有机掩膜层下的二氧化硅层;其特征在于,所述微结构刻蚀方法包含以下步骤:步骤1、输入低功率低频信号激发等离子体(5),对晶圆(4)上硬掩膜层,以及不定型碳层或有机掩膜层进行高深宽比微结构刻蚀;步骤2、将低功率低频信号输入切换为高功率低频信号输入;步骤3、高功率低频信号激发等离子体(5),对晶圆(4)的二氧化硅层进行高深宽比微结构刻蚀。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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