[发明专利]一种适用于静态随机存储器的冗余容错内建自修复方法无效
| 申请号： | 201210566395.2 | 申请日： | 2012-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN103077749A | 公开（公告）日： | 2013-05-01 |
| 发明（设计）人： | 熊保玉;拜福君 | 申请（专利权）人： | 西安华芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44 |
| 代理公司： | 西安西交通盛知识产权代理有限责任公司 61217 | 代理人： | 田洲 |
| 地址： | 710055 陕西省西安*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种适用于静态随机存储器的冗余容错内建自修复方法，该方法对传统的内建自修复算法提出了改进，加入了冗余测试模块和失效冗余地址屏蔽模块，解决了传统内建自修复算法在冗余地址失效时，无法正确修复的缺陷。冗余测试模块先对冗余地址测试，如果被测试的冗余地址失效，则将其失效标志位置为1，默认为0。待冗余测试结束时，每一个冗余地址都得到它的失效标志位。此时失效冗余地址屏蔽模块工作，对冗余地址进行分析，如果该冗余地址失效标志位为0，则将该冗余地址存入有效冗余地址寄存器内，否则，将其屏蔽掉，不存入。经过对失效的冗余地址屏蔽后，就可以保证自修复地址替换时，每一个被替换的冗余地址都是有效的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 静态 随机 存储器 冗余 容错 修复 方法 | ||
【主权项】：
一种适用于静态随机存储器的冗余容错内建自修复方法，其特征在于，包括以下步骤：1）、首先，进行复位操作，对SRAM内建自修复算法中所有的寄存器初始化；2）、进入冗余测试，对SRAM冗余地址执行March C‑算法；获取冗余地址失效标志位；3）、分析冗余地址的失效标志位，屏蔽失效的冗余地址，存储有效的冗余地址。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安华芯半导体有限公司，未经西安华芯半导体有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210566395.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：直吸式压缩机
- 下一篇：机械化修井作业井场杆管举升启闭吊卡装置
