[发明专利]间隔变更装置、电子元件操作装置以及电子元件测试装置有效
| 申请号： | 201210570446.9 | 申请日： | 2012-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN103226154A | 公开（公告）日： | 2013-07-31 |
| 发明（设计）人： | 中嶋治希 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R31/26 |
| 代理公司： | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人： | 高占元 |
| 地址： | 日本东京都练*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种在通过梭子循环方式在托盘间移载DUT时，可变更DUT间的间隔的间隔变更装置。该间隔变更装置，具有用于保持DUT100的多个梭子51、为多个梭子51提供导向的第一导轨521、将梭子51沿第一导轨521以第一间隔P1送出的第2送出装置54、具有从第2送出装置接收梭子51的多个引脚555并使引脚555沿着第1导轨521以间隔P2移动的第3送出装置55以及用于控制第2送出装置54的送出速度和第3送出装置55的接收速度的控制装置57。 | ||
| 搜索关键词： | 间隔 变更 装置 电子元件 操作 以及 测试 | ||
【主权项】：
一种间隔变更装置，用于变更被测电子元件间的间隔，其特征在于，具有：用于保持所述被测电子元件的多个保持构件；用于为所述多个保持构件提供导向的轨道；沿着所述轨道以第1间隔送出所述保持构件的第1移动构件；具有从所述第1移动构件接收所述保持构件的多个接收部，沿着所述轨道以第2间隔移动所述接收部的第2移动构件；用于控制所述第1移动构件的送出速度以及所述第2移动构件的接收速度的控制构件。
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