[发明专利]半导体器件制造方法有效

专利信息
申请号: 201210575014.7 申请日: 2012-12-26
公开(公告)号: CN103177968A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 江口浩次;小田洋平;足立信一 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L21/304
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 舒雄文;王英
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开了一种半导体器件制造方法。在所述半导体器件制造方法中,在半导体衬底(3)的前表面(3a)上形成绝缘层(6)。通过使用所述绝缘层(6)作为掩模来在所述衬底(3)中形成沟槽(8),以使得所述绝缘层(6)的第一部分(6a)位于所述沟槽(8)之间的所述前表面(3a)上,并且使得所述绝缘层(6)的第二部分(6b)位于除了所述沟槽(8)之间以外的位置处的所述前表面(3a)上。去除整个所述第一部分(6a),并去除每个沟槽(8)的开口周围的所述第二部分(6b)。通过在所述前表面(3a)侧上外延生长外延层(9),而利用所述外延层(9)填充所述沟槽(8)。通过使用剩余的所述第二部分(6b)作为抛光停止部,而对所述前表面(3a)侧进行抛光。
搜索关键词: 半导体器件 制造 方法
【主权项】:
一种制造半导体器件的方法,所述方法包括:制备具有前表面(3a)的半导体衬底(3);在所述前表面(3a)上形成电绝缘层(6);通过使用所述绝缘层(6)作为掩模来在所述半导体衬底(3)中形成多个沟槽(8),以使得所述绝缘层(6)的第一部分(6a)位于相邻沟槽(8)之间的所述前表面(3a)上,并且使得所述绝缘层(6)的第二部分(6b)位于除了相邻沟槽(8)之间以外的位置处的所述前表面(3a)上;通过完全去除所述第一部分(6a)并部分地去除所述第二部分(6b)来去除所述绝缘层(6),以使得所述多个沟槽(8)中的每一个的开口周围的所述第二部分(6b)被去除;通过在所述前表面(3a)侧上外延生长外延层(9),而利用所述外延层(9)填充所述多个沟槽(8),以及通过使用所述第二部分(6b)作为抛光停止部对所述外延层(9)进行抛光,而对所述前表面(3a)侧进行平坦化。
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