[发明专利]一种绝缘子表面污秽盐密测量方法及其装置有效
申请号: | 201210579261.4 | 申请日: | 2012-12-27 |
公开(公告)号: | CN103056121A | 公开(公告)日: | 2013-04-24 |
发明(设计)人: | 刘琴;徐涛;万小东;许佐明;南敬 | 申请(专利权)人: | 中国电力科学研究院;国家电网公司 |
主分类号: | B08B3/02 | 分类号: | B08B3/02;G01N27/04 |
代理公司: | 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 | 代理人: | 徐国文 |
地址: | 100192 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种绝缘子表面污秽盐密测量方法及其装置,该装置包括喷水装置和检测装置。喷水装置包括储水盒和喷头,储水盒通过导管与喷头连接。检测装置包括探头和检测装置本体。探头用于将污水中的电导率传给检测装置本体,进行盐密测量。其方法为:1)润湿污秽绝缘子表面;2)检测装置检测步骤1)中污水的电导率;3)进行电导率到盐密值的换算。本发明可以准确测量绝缘子表面不同部位的盐密分布情况,节省人力物力,确保盐密测量的可靠性,提高测量的效率,方便,有效,快捷。 | ||
搜索关键词: | 一种 绝缘子 表面 污秽 测量方法 及其 装置 | ||
【主权项】:
一种用于清洗绝缘子表面的喷水装置,其特征在于,所述喷水装置包括储水盒、喷头和用于检测储水盒中水量的传感器;所述储水盒通过导管与所述喷头连接,用于将储水盒中的去离子水喷到绝缘子表面。
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