[发明专利]一种电子元器件参数测试装置

摘要

本发明公开了一种电子元器件参数测试装置及方法，所述测试装置包括中央处理器，控制单元，电平转换单元，电压、电流检测单元，存储单元和人机交互单元，中央处理器分别与人机交互单元和控制单元连接；控制单元分别与存储单元、电压、电流检测单元和电平转换单元连接；电平转换单元分别与控制单元和被测芯片连接；电压、电流检测单元分别与控制单元和被测芯片连接。本发明的测试装置便携小巧；大大缩短了测试编程的过程；还能分别对每一路进行电路、电压的控制和检测，测试精度满足用户使用要求。

主权项

一种电子元器件参数测试装置，包括中央处理器，控制单元，电平转换单元，电压、电流检测单元，存储单元和人机交互单元，其特征在于：中央处理器，分别与人机交互单元和控制单元连接，用于测试激励的载入、状态数据的分析和与人机交互单元进行交互；控制单元，分别与存储单元、电压、电流检测单元和电平转换单元连接，用于实现激励信号的生成、调整和输出，采集被测芯片的输出信号，检测激励及采样信号的电压和电流信息，并调整被测芯片的供电电压；电平转换单元，分别与控制单元和被测芯片连接，用于将控制单元发出的测试激励信号转换为实际施加在被测芯片上的信号；电压、电流检测单元，分别与控制单元和被测芯片连接，用于将采集到的被测芯片的电压电流信息发送给控制单元；存储单元，该存储单元包括SSD存储模块和DDR数据缓冲区。