[发明专利]一种用于继电器的密封检漏方法及其装置

摘要

本发明公开了一种用于继电器的密封检漏方法及其装置，该方法是先用标定来得到第一时刻到达时空治具腔体内压力值P0和已知大泄漏继电器在治具腔体内压力值P2，第二时刻到达时空治具腔体内压力值P1和已知大泄漏继电器在治具腔体内压力值P3，并得到两个时刻之间的压力差的值△P1＝P0－P1；实测中，分别得到待测继电器在治具腔体内第一时刻到达时治具腔体内压力值P6和第二时刻到达时治具腔体内压力值P7，并得出两个时刻之间的压力差的值△P3＝P6－P7；然后再根据压力值P6，比较值△P3/△P1，来判定待测继电器是否存在泄漏，以及泄漏的情况。从而消除了采用人工检测所带来的弊端，具有检测速度快，测试准确度高，以及不会造成继电器直接报废的优点。

主权项

一种用于继电器的密封检漏方法，其特征在于：包括标定过程和实测过程；在标定过程中，先是对密封的空治具腔体内的压力进行标定，在预设的第一时刻到达时检测出空治具腔体内压力值P0，在预设的第二时刻到达时检测出空治具腔体内压力值P1，并计算得出两个时刻之间的压力差的值△P1＝P0－P1；接着再对已知的大泄漏继电器放入密封的治具腔体内的压力进行标定，在所述第一时刻到达时检测出治具腔体内压力值P2，在所述第二时刻到达时检测出治具腔体内压力值P3；在实测过程中，将待测继电器放入密封的治具腔体内，对治具腔体内压力进行测试，在所述第一时刻到达时检测出治具腔体内压力值P6，在所述第二时刻到达时检测出治具腔体内压力值P7，并计算得出两个时刻之间的压力差的值△P3＝P6－P7；当所述压力值P6小于或等于压力值P2时，判定所述待测继电器存在大泄漏，为不合格产品；当所述压力值P6大于压力值P2时，再比较△P3/△P1的值，当△P3/△P1大于或等于预设的阈值时，判定所述待测继电器存在微泄漏，为不合格产品，当△P3/△P1小于预设的阈值时，判定所述待测继电器为合格产品。