[发明专利]外观检查装置和外观检查方法有效

专利信息
申请号: 201210584213.4 申请日: 2012-12-28
公开(公告)号: CN103207183A 公开(公告)日: 2013-07-17
发明(设计)人: 内山直哉;森本英敏 申请(专利权)人: 株式会社其恩斯
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G06K9/46
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 陈源;李铭
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开了外观检查装置和外观检查方法。预先接收并存储了构成被看作非缺陷物品的各物品的一组图像的多个图像的输入,并基于所存储的所述多个图像设置用于检测检查对象的缺陷部位的缺陷阈值。基于设置的缺陷阈值来针对所存储的所述多个图像中的每一个计算将与用于对检查对象进行非缺陷/缺陷判定的判定阈值进行比较的缺陷量,并且利用参数化技术和非参数化技术中的至少一种来测试每个计算出的缺陷量是否是异常值。显示和输出异常值信息,该异常值信息用于指定其缺陷量已经被测试为异常值的图像。
搜索关键词: 外观 检查 装置 方法
【主权项】:
一种外观检查装置,其将检查对象的拍摄图像与被看作非缺陷物品的各物品的一组图像进行比较,以进行非缺陷/缺陷判定,所述外观检查装置包括:图像输入单元,用于接收构成被看作非缺陷物品的各物品的一组图像的多个图像的输入,并存储这些图像;阈值设置单元,用于基于所存储的所述多个图像设置用于检测检查对象的缺陷部位的缺陷阈值;缺陷量计算单元,用于基于所设置的缺陷阈值针对所存储的所述多个图像中的每一个图像计算将与判定阈值进行比较的缺陷量,所述判定阈值用于对所述检查对象进行非缺陷/缺陷判定;异常值测试单元,用于通过统计处理来测试每个计算出的缺陷量是否是异常值;以及信息显示单元,用于显示和输出异常值信息,该异常值信息用于指定其缺陷量已经被测试为异常值的图像。
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