[发明专利]存储器故障诊断装置、存储器故障诊断方法

摘要

本发明的目的在于，提供一种使用预先设定的控制周期内的应用执行后的间隔时间，用最小时间进行存储器的故障诊断，使得诊断对象区域的存储器全部故障诊断时间成为最小的存储器故障诊断装置和存储器故障诊断方法。存储器的区域具备诊断区域(41)和非诊断区域(42)，诊断区域被分割成各个区域不重叠的多个行区域，并且，各个行区域被分割成各自不重叠的多个单元区域，存储器故障诊断方法为2级的诊断，具备：针对行区域内的1组单元区域的全部组合的单元区域间进行诊断的行区域内诊断步骤；和针对诊断区域内的1组行区域的全部组合的行区域间进行诊断的行区域间诊断步骤，将行区域尺寸设置成使行区域内诊断时间与行区域间诊断时间相等。

主权项

一种存储器故障诊断方法，使用预先设定的控制周期内的应用执行后的间隔时间来诊断存储器的故障，其特征在于，所述存储器的区域具备预先设定的成为诊断对象的诊断区域、和不在所述应用以及所述存储器故障诊断中使用的诊断对象以外的非诊断区域，所述诊断区域被分割成各个区域不重叠的多个行区域，并且，各个所述行区域被分割成各自不重叠的多个单元区域，所述单元区域以所述存储器的数据总线宽度尺寸、字节尺寸和字尺寸、以及字节尺寸和字尺寸的整数倍中的某个尺寸来构成，所述行区域尺寸设定为大于等于所述单元区域尺寸的整数倍且小于等于所述诊断区域的1/2、并且所述行区域内诊断时间和所述行区域间诊断时间相等的尺寸，所述存储器故障诊断方法包括：针对所述行区域内的1组所述单元区域的全部组合进行诊断的行区域内诊断步骤；和针对所述诊断区域内的1组所述行区域的全部组合进行诊断的行区域间诊断步骤，所述行区域内诊断步骤包括：在所述控制周期中的应用执行已结束的定时，使预先设定的1组所述单元区域的数据保全到所述非诊断区域中的步骤；针对1组所述单元区域，写入并生成4种相同位位置的样式为相互反转关系的组合，每次写入时读出该单元区域的数据，比较1组该单元区域的值，判断该值是否是期望值的步骤；在比较的结果是期望值的情况下，向该1组单元区域中写回已保全到所述保全区域中的数据的步骤；和在比较的结果不是期望值的情况下，判断该1组单元区域为“故障”的步骤，所述行区域间诊断步骤包括：在所述控制周期中的应用执行已结束的定时，使预先设定的所述行区 域的1组数据保全到所述非诊断区域中的步骤；针对1组所述行区域，写入并生成4种相同位位置的样式为相互反转关系的组合，每次写入时读出该行区域的数据，比较1组该行区域的值，判断该值是否是期望值的步骤；在比较的结果是期望值的情况下，向该1组行区域中写回已保全到所述保全区域中的数据的步骤；和在比较的结果不是期望值的情况下，判断该1组行区域为“故障”的步骤。