[发明专利]CMOS芯片自动开短路测试系统及测试方法有效
申请号: | 201210585947.4 | 申请日: | 2012-12-28 |
公开(公告)号: | CN103076530A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 钟岳良 | 申请(专利权)人: | 昆山丘钛微电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
代理公司: | 昆山四方专利事务所 32212 | 代理人: | 盛建德 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种CMOS芯片自动开短路测试系统及测试方法,该测试系统包括主控芯片、多路复用模块、液晶显示模块和存储模块,所述主控芯片分别与所述多路复用模块、所述液晶显示模块和所述存储模块相连接,所述多路复用模块与待测CMOS芯片相连接,所述主控芯片能够通过所述多路复用模块对待测CMOS芯片的管脚进行信号采集并通过软件进行信号处理,能够通过所述存储模块对信号处理结果进行存储,还能够通过液晶显示模块将信号处理结果显示出来,本发明能够满足市场上各种CMOS芯片的自动开短路测试,优化测试效率的同时提高了测试的精度,可依据不同的CMOS芯片制定测试标准。 | ||
搜索关键词: | cmos 芯片 自动 短路 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种CMOS芯片自动开短路测试系统,其特征在于:包括主控芯片、多路复用模块、液晶显示模块和存储模块,所述主控芯片分别与所述多路复用模块、所述液晶显示模块和所述存储模块相连接,所述多路复用模块与待测CMOS芯片相连接,所述主控芯片能够通过所述多路复用模块对待测CMOS芯片的管脚进行信号采集并通过软件进行信号处理,能够通过所述存储模块对信号处理结果进行存储,还能够通过液晶显示模块将信号处理结果显示出来。
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