[发明专利]CMOS芯片自动开短路测试系统及测试方法有效

专利信息
申请号: 201210585947.4 申请日: 2012-12-28
公开(公告)号: CN103076530A 公开(公告)日: 2013-05-01
发明(设计)人: 钟岳良 申请(专利权)人: 昆山丘钛微电子科技有限公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02
代理公司: 昆山四方专利事务所 32212 代理人: 盛建德
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种CMOS芯片自动开短路测试系统及测试方法,该测试系统包括主控芯片、多路复用模块、液晶显示模块和存储模块,所述主控芯片分别与所述多路复用模块、所述液晶显示模块和所述存储模块相连接,所述多路复用模块与待测CMOS芯片相连接,所述主控芯片能够通过所述多路复用模块对待测CMOS芯片的管脚进行信号采集并通过软件进行信号处理,能够通过所述存储模块对信号处理结果进行存储,还能够通过液晶显示模块将信号处理结果显示出来,本发明能够满足市场上各种CMOS芯片的自动开短路测试,优化测试效率的同时提高了测试的精度,可依据不同的CMOS芯片制定测试标准。
搜索关键词: cmos 芯片 自动 短路 测试 系统 方法
【主权项】:
一种CMOS芯片自动开短路测试系统,其特征在于:包括主控芯片、多路复用模块、液晶显示模块和存储模块,所述主控芯片分别与所述多路复用模块、所述液晶显示模块和所述存储模块相连接,所述多路复用模块与待测CMOS芯片相连接,所述主控芯片能够通过所述多路复用模块对待测CMOS芯片的管脚进行信号采集并通过软件进行信号处理,能够通过所述存储模块对信号处理结果进行存储,还能够通过液晶显示模块将信号处理结果显示出来。
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