[发明专利]一种探针自动对准电极测试方法、工具及其装置无效

专利信息
申请号: 201210589390.1 申请日: 2012-12-31
公开(公告)号: CN103063887A 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: 刘坚 申请(专利权)人: 福建合顺微电子有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073;G01R31/28
代理公司: 福州元创专利商标代理有限公司 35100 代理人: 蔡学俊
地址: 350018 福建*** 国省代码: 福建;35
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种探针自动对准电极测试方法、工具及其装置,该方法按以下步骤进行:该工具包括导引板,导引板上开设有多个并列平行的导引槽,相邻的两个导引槽之间形成隔离测试探针的隔板,导引槽的端部具有引导被测体电极进入导引槽内的第一入口,导引槽的侧部具有引导测试探针进入导引槽内的第二入口,其中导引槽是根据被测体电极的标准位置而开设的;根据各个被测体电极的电参数需要,安排单个或多重测试探针;从第一入口直接插入被测体电极,被测体电极在插入过程中被自动矫正至标准位置;移动测试探针,测试探针从第二入口进入导引槽内并准确地接触被测体电极。该装置由多个工具组成。本发明定位简单易行、测试效率高、通用性强且成本低。
搜索关键词: 一种 探针 自动 对准 电极 测试 方法 工具 及其 装置
【主权项】:
一种探针自动对准电极对准测试工具,其特征在于:包括导引板,所述导引板上开设有多个并列平行的导引槽,相邻的两个导引槽之间形成隔离测试探针的隔板,所述导引槽的端部具有引导被测体电极进入导引槽内的第一入口,所述第一入口为喇叭形开口,所述导引槽的侧部具有引导测试探针进入导引槽内的第二入口。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福建合顺微电子有限公司,未经福建合顺微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210589390.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top