[发明专利]用于测试磁性薄膜材料力和磁耦合的测试装置及测试方法有效
| 申请号： | 201210592322.0 | 申请日： | 2012-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN103064043A | 公开（公告）日： | 2013-04-24 |
| 发明（设计）人： | 张兴义;刘聪;周军;周又和 | 申请（专利权）人： | 兰州大学 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12;G01B11/16 |
| 代理公司： | 北京中恒高博知识产权代理有限公司 11249 | 代理人： | 宋敏 |
| 地址： | 730030 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于测试磁性薄膜材料力和磁耦合的测试装置及检测方法，包括光源、起偏镜、检偏镜、第一分光镜、第二分光镜、第一光栅、第二光栅、透镜、过滤屏、第一光线采集装置和第二光线采集装置，所述第一分光镜、第二分光镜、第一光栅、第二光栅、透镜、过滤屏和第一光线采集装置顺序排列在一水平直线上，所述光源、起偏镜设置在第一分光镜的一侧，且光源、起偏镜和第一分光镜处于同一水平直线上，所述第二光线采集装置和检偏镜设置在第二分光镜的一侧，且第二光线采集装置、检偏镜和第二分光镜处于同一水平直线上。实现对磁性材料的力-磁耦合特性测试的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 磁性 薄膜 材料 耦合 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测试磁性薄膜材料力和磁耦合的测试装置，其特征在于，包括光源、起偏镜、检偏镜、第一分光镜、第二分光镜、第一光栅、第二光栅、透镜、过滤屏、第一光线采集装置和第二光线采集装置，所述第一分光镜、第二分光镜、第一光栅、第二光栅、透镜、过滤屏和第一光线采集装置顺序排列在一水平直线上，所述光源、起偏镜设置在第一分光镜的一侧，且光源、起偏镜和第一分光镜处于同一水平直线上，所述第二光线采集装置和检偏镜设置在第二分光镜的一侧，且第二光线采集装置、检偏镜和第二分光镜处于同一水平直线上。
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