[实用新型]FPGA开发板I/O检测系统有效
| 申请号： | 201220081971.X | 申请日： | 2012-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN202583376U | 公开（公告）日： | 2012-12-05 |
| 发明（设计）人： | 李芳芳;高玉芳 | 申请（专利权）人： | 东莞市翔丰电子科技实业有限公司;东莞博用电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 谭一兵;曾云腾 |
| 地址： | 523850 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种FPGA开发板I/O检测系统，包括I/O开路检测系统及I/O短路检测系统，所述FPGA开发板I/O检测系统包括I/O单元、输入单元及输出单元，所述输入单元与所述I/O单元电性连接，所述输出单元与所述I/O单元电性连接，所述I/O单元包括若干I/O端口。本实用新型FPGA开发板I/O检测系统将输入单元与输出单元分别与I/O单元电性连接，利用I/O单元I/O端口的双向端口特性，配合输入单元输出信号及输出单元接收信号来对I/O开路及短路性能进行检测，减少了检测的工作量，同时提高了检测的精确度。 | ||
| 搜索关键词： | fpga 开发 检测 系统 | ||
【主权项】：
一种FPGA开发板I/O检测系统，其特征在于：所述FPGA开发板I/O检测系统为I/O开路检测系统（100），所述I/O开路检测系统（100）包括I/O单元（110）、输入单元（120）及输出单元（130），所述输入单元（120）与所述I/O单元（110）电性连接，所述输出单元（130）与所述I/O单元（110）电性连接，所述I/O单元（110）包括若干I/O端口（111），所述输入单元（120）输入为高电平（VCC），所述I/O端口（111）短接在一起。
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