[实用新型]单晶晶棒垂直度测试仪有效
| 申请号： | 201220152682.4 | 申请日： | 2012-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN202599363U | 公开（公告）日： | 2012-12-12 |
| 发明（设计）人： | 侯前伟;周俊;陈金林 | 申请（专利权）人： | 常州天合光能有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26;G01B11/27 |
| 代理公司： | 常州市维益专利事务所 32211 | 代理人： | 王凌霄 |
| 地址： | 213031 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种单晶晶棒垂直度测试仪，具有支架、透明平面板、平面镜和激光笔，透明平面板水平固定在支架上，透明平面板上标示出标示点，激光笔固定于支架上，激光笔的光束垂直于透明平面板并且穿过标示点，平面镜活动连接在支架上，激光笔和平面镜分别位于透明平面板的上方和下方。本实用新型的有益效果是：单晶晶棒垂直度测试仪结构简单紧凑，测试操作简单，使用方便。 | ||
| 搜索关键词： | 单晶晶棒 垂直 测试仪 | ||
【主权项】：
一种单晶晶棒垂直度测试仪，其特征在于：具有支架(1)、透明平面板(2)、平面镜(3)和激光笔(4)，透明平面板(2)水平固定在支架(1)上，透明平面板(2)上标示出标示点(5)，激光笔(4)固定于支架(1)上，激光笔(4)的光束垂直于透明平面板(2)并且穿过标示点(5)，平面镜(3)活动连接在支架(1)上，激光笔(4)和平面镜(3)分别位于透明平面板(2)的上方和下方。
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