[实用新型]自动测量批量晶体振荡器老化率的测试系统有效
| 申请号： | 201220165989.8 | 申请日： | 2012-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN202649401U | 公开（公告）日： | 2013-01-02 |
| 发明（设计）人： | 彭军 | 申请（专利权）人： | 广州市三才通讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/01;G05B19/418 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 李新林 |
| 地址： | 510000 广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种自动测量批量晶体振荡器老化率的测试系统，其包括外部控制设备、顶层控制电路、中间层控制电路及测试架，所述外部控制设备与所述顶层控制电路相连，所述顶层控制电路连接有至少一个所述中间层控制电路，每个所述中间层控制电路连接有多个所述测试架，每个所述测试架上设置有一末层控制电路，每个所述末层控制电路连接有多个测试板，每个测试板上设置有多个待测晶振节点。本实用新型的测试系统采用多级控制电路来实现基于同一上位机的多个测试架上的晶振老化率进行自动化测试，达到节约测试成本且提高测试效率的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 测量 批量 晶体振荡器 老化 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种自动测量批量晶体振荡器老化率的测试系统，其特征在于：包括外部控制设备、顶层控制电路、中间层控制电路及测试架，所述外部控制设备与所述顶层控制电路相连，所述顶层控制电路连接有至少一个所述中间层控制电路，每个所述中间层控制电路连接有多个所述测试架，每个所述测试架上设置有一末层控制电路，每个所述末层控制电路连接有多个测试板，每个测试板上设置有多个待测晶振节点。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州市三才通讯科技有限公司，未经广州市三才通讯科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201220165989.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
