[实用新型]自动测量批量晶体振荡器温度特性的测试系统有效
| 申请号： | 201220166006.2 | 申请日： | 2012-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN202649402U | 公开（公告）日： | 2013-01-02 |
| 发明（设计）人： | 佘国源 | 申请（专利权）人： | 广州市三才通讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R23/02;G01R31/01;G05B19/418 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 李新林 |
| 地址： | 510000 广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种自动测量批量晶体振荡器温度特性的测试系统，其包括恒温温箱、频率测试设备、控制装置以及外部控制设备，所述控制装置设置有一级控制电路，所述恒温温箱内设置有用于控制所述恒温温箱内部环境的恒温温箱控制表头及若干设置有待测晶振节点的测试板，每个所述测试板上还设置有二级控制电路，所述二级控制电路与所述一级控制电路相连，所述一级控制电路与所述外部控制设备相连。本实用新型的测试系统可以对批量晶体振荡器进行温度特性方面的测试，全程自动化进行，减少了人工参与程度，大大的提高了测试效率，保证了测试的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 测量 批量 晶体振荡器 温度 特性 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种自动测量批量晶体振荡器温度特性的测试系统，其特征在于：包括放置有批量待测晶体振荡器的恒温温箱、用于测试晶体振荡器晶振频率的频率测试设备、与所述恒温温箱和频率测试设备相连以控制所述恒温温箱和频率测试设备的控制装置以及与所述控制装置相连以控制所述控制装置的外部控制设备，所述控制装置设置有一级控制电路，所述恒温温箱内设置有用于控制所述恒温温箱内部环境的恒温温箱控制表头及若干设置有待测晶振节点的测试板，每个所述测试板上还设置有二级控制电路，所述二级控制电路与所述一级控制电路相连。
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